產品詳情
簡單介紹：
LED測試儀 601（工程實驗）
本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精刻度的光譜、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、積分球、及人性化的電腦操作軟件，提供全光譜、色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。
詳情介紹：
LED測試儀 601（工程實驗）
本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精刻度的光譜、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、積分球、及人性化的電腦操作軟件，提供全光譜、色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、偵測器、光譜儀、電流計、光強分布箱、及電腦控制為主要元件，搭配**開發之控制軟體，在簡易的操作介面之下，擔高測試準確度。并可達到自行校正波長及照度校正。選用本系統進行LED晶片生產及封裝廠已有科學園區多家廠商。
本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精刻度的光譜、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、積分球、及人性化的電腦操作軟件，提供全光譜、色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、偵測器、光譜儀、電流計、光強分布箱、及電腦控制為主要元件，搭配**開發之控制軟體，在簡易的操作介面之下，擔高測試準確度。并可達到自行校正波長及照度校正。選用本系統進行LED晶片生產及封裝廠已有科學園區多家廠商。
此套系統使用的是掃描（scanning)式的光譜儀，解析度高，量測穩定。為了滿足使用者多樣的需求，提供了不同的測度項目，包括了IV，（X，Y），λd，λp，TC，CRI，FWHM，IP，VF，IR，IF，VF與THY。它也能測量不同形式的LED，例如LED CHIP，SMD，LAMP，MODULE，LED DISPLAY。
測試項目及規格
適用范圍
*LED晶片廠研發部及品管部，LED封裝廠研發部及品管部，LED來料檢驗
*精準度到小數點4位小數，是實驗室等級的光譜儀。隨機附精密校正檔及光學計算分析軟體程序（DLLs）可用于對其他的儀器做校正用，提供全光譜、色溫、色度、波長、CRI及光強度等全功自動控制，達到需要的待測物各種光參數的量測。
系統特色
*全自動化量測設計，操作介面簡單
*使用者可自行與標準樣品校正，無須負擔龐大的校正費用
*軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改；
*可產生各種使用者所需單色光譜光源及功率
*采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S標準及演算等方法
系統硬件
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型號
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規格
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光譜儀
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ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm
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optimum積分球
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ISP-050,50mm積分球
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Picoanmeter電流計
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Keithley#6485
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電源供應器
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Keithley#2400
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optimum system controller
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Windows系統自動控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console軟體規格為VisualBasic 6.0開發,相容Windows 98以上版本
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optical components
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偵測器,三色光源,光源箱,光纖及其他光學配件
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量測項目
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規格
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Reverse Current (逆向電流) (IF)
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0-1,00uA
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Reverse basic voltage（逆向電壓）(Vf)
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0-50Vprogrammable
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Forward Current (順向電流) (IF)
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0.1-1000mA
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Forward basic voltage(順向電壓 )(Vf)
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0-20Vprogrammable
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Peak Wavelength(尖峰波長)(λp)
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350-1050nm
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Luminance intensity(光強度)
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0-50,000mcd
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Radiance intensity (輻射強度)
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0-5000mW/sr
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Color Temperature(色溫)
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1000-20,000K
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Dominant Wavelength(主波長) (λd)
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400-700nm
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Chromaticity coordiantes(色度坐標)
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CIE (x,y)
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Correlated Color temperature (相對色溫)
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CCT,1,000-100,000K
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Purtiy(純度)
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100%
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FWHM(半寬波長)
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0-200nm
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Center Wavelength(中心波長)
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350-1050nm
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Centroid Wavelength(重心波長)
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350-1050nm
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CRI(演色指數)
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0-100%
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